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0571-85123400
中安
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BTD-T800(16通道)
分立器件綜合老化系統

適用于各種封裝形式的中/小功率 二極管、三極管、場效應管、可控硅等半導體分立器件的

穩態壽命試驗(CFOL)、間歇壽命試驗(IOL)和正向功率老煉篩選。


┃ 風冷試驗腔

R.T.（風冷型）



┃ 容量

16個試驗通道；單板64個工位 / 整機1024工位；



┃ 試驗電源

配置V b *4臺 + V c *4臺；Max 120V；



┃ 驅動板數量

16塊；


恒流源：單板16路；0～1.000A/路


試驗電流檢測：0.0mA～10.00A；精度：±(1％ + 1LSB）


試驗電壓檢測：0.0V～199.9V；精度：±(1％ + 1LSB)


試驗標準
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