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BTD-T910
(電阻器)
BTD-T910
(電阻器)
電阻器高溫老化試驗系統
系統能滿足貼片電阻、引線電阻、網絡電子等各種封裝形式電阻器的高溫老化篩選和測試,不同的器件用不同的老化板。
以及通過源表對電阻進行老化前和老化后的開爾文阻值測試。
試驗標準
產品參數
高溫試驗箱
型號
廣五所 或 ESPEC PH-201
試驗腔尺寸
600*600*600(mm)
風道設計
水平橫向循環風道設計
試驗溫度范圍
室溫~ 150℃
溫度均勻性
125℃±3℃(空載); 試驗溫度波動度:±0.5℃
容量
獨立試驗區數量
8個區
試驗通道
16個
單板工位數 / 總容量
120工位(四端檢測時為40工位)/ 1920工位
試驗電源
試驗電源數量
8臺(一臺電源對應一個獨立試驗區)
試驗電源量程
60V/20.0A;100V/12.0A;200V/6.0A;300V/3.0A;600V/2.0A等可選
測試參數量程檢測
100.0000Ω
分辨率:100μΩ;準確度(讀數的ppm+量程的ppm):100+20(1年 23℃±5℃);溫度系數0-18℃和28-50℃:8+1
1.000000 KΩ
分辨率:1uΩ;準確度(讀數的ppm+量程的ppm):100+6(1年 23℃±5℃);溫度系數0-18℃和28-50℃:8+1
10.00000KΩ
分辨率:10mΩ;準確度(讀數的ppm+量程的ppm):100+6(1年 23℃±5℃);溫度系數0-18℃和28-50℃:8+1
100.0000KΩ
分辨率:100mΩ;準確度(讀數的ppm+量程的ppm):100+10(1年 23℃±5℃);溫度系數0-18℃和28-50℃:8+1
1.000000MΩ
分辨率:1Ω;準確度(讀數的ppm+量程的ppm):100+10(1年 23℃±5℃);溫度系數0-18℃和28-50℃:8+1
10.00000MΩ
分辨率:10Ω;準確度(讀數的ppm+量程的ppm):400+1(1年 23℃±5℃);溫度系數0-18℃和28-50℃:70+1
100.0000MΩ
分辨率:100Ω;準確度(讀數的ppm+量程的ppm):2000+30(1年 23℃±5℃);溫度系數0-18℃和28-50℃:385+1
驅動板
驅動板數量
16塊
電壓檢測范圍
0.00~999.9V; 精度:±(1%+1LSB)
電流檢測范圍
1μA~500.0mA; 精度:±(1%+1LSB)
老化板
基板材質
采用進口耐高溫材料生產,能確保長期在150℃高溫環境下使用
老化座
均采用耐高溫、抗氧化、耐疲勞的材料加工生產,并能確保長期在150℃高溫環境下使用
尺寸
290*600(mm)
整機信息
尺寸
1430W*1400D*2000H(mm)
電網要求
A.C.220V±10% / 50Hz
功率 / 重量
8KW / 600KG
其他型號
BTI-T3900
(晶體振蕩器)
晶振高溫老化系統
BTE-T252
(三端穩壓器)
三端穩壓器高溫老化系統
BTD-T886
(光電器件/光通訊模塊)
光電耦合器老化系統(OC)
BTD-T886
(光電器件/光通訊模塊)
激光二極管老化系統Laser Diode
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