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0571-85123400
中安
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BTR-T660(功率模塊HTRB-烘箱型)
模塊高溫反偏老化試驗系統(HTRB)--烘箱型

系統能通過配置不同老化板來滿足IGBT模塊等半導體分立器件的高溫反偏的可靠性測試和老化篩選。上下橋同時加載偏置電壓,更快速更均勻


┃ 高溫箱

R.T.~(175℃ / 200℃);溫度均勻性:150℃±3℃(空載);

┃ 試驗電源 

高精度電源-Max±2000V;

┃ 驅動板

電壓監測范圍:0.0V~±2000.0V;分辨率:0.1V;

精度:±(0.5‰+1V);


漏電流檢測范圍:1.0uA~50mA;分辨率:0.01uA

精度:±(1%+0.01uA);


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